KS C IEC 63229
Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 63229
Международный стандарт
IEC 63229:2021(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Дата опубликования
2025.01.31
Код МКС
31.080.99
Стандарт KS C IEC 63229 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7833103.aspx