Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7833103.aspx

KS C IEC 63229

Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS C IEC 63229
Международный стандартIEC 63229:2021(IDT)
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Дата опубликования2025.01.31
Код МКС31.080.99

Стандарт KS C IEC 63229 входит в рубрики классификатора: