|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Международные и зарубежные стандарты заказать возможно, направляйте заявку в отдел распространения документов по стандартизации на адрес gost@gostinfo.ru
Полупроводниковые приборы прочие
Фильтр по статусу:
Найдено: 22 документа | Страницы: 1 / 2 |
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
| Страницы: 1 / 2 |
|
|