| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектров потерь энергии электронов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Количественный анализ внутрикристаллитной ликвации марганца в стальной продукции, полученной методом непрерывного литья
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Руководство по анализу дезориентации для оценки механических повреждений аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных конечным размером зонда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Автоматизированные системы дозирования жидкостей. Часть 1. Словарь и общие требования
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Автоматизированные системы дозирования жидкостей. Часть 2. Методы измерения для определения объемных характеристик
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32238,00
|
|
|
|
Автоматизированные системы дозирования жидкостей. Часть 3. Определение, требования к данным по объемным характеристикам и составление отчетности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки глубины для кремния с помощью многослойных дельта-эталонных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Анализ микропучком. Электронный микроанализ пробы. Словарь
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ (EPMA). Словарь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6966,00
|
|
|
|
Микроанализ электронно-зондовый. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратнорассеянных электронов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28674,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Оже-электронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Анализ металлических нанослоев на подложках на основе железа методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Лабораторная посуда. Фляги для кипячения с широким горлом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6966,00
|
|
Перевод на русский язык
|
13932,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение минимальной обнаруживаемости устройства на основе поверхностного плазмонного резонанса
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии электронных энергетических потерь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
| Страницы: ... / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 / 19 |