| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6811,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 3. Термины, используемые при анализе оптического интерфейса
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6811,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Руководство по подготовке и монтажу образцов для анализа
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Обработка образцов перед анализом
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная спекроскопия Оже и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию определенной экспериментальным путем относительной чувствительности прибора для качественного анализа однородных материалов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная спекроскопия Оже и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию определенной экспериментальным путем относительной чувствительности прибора для качественного анализа однородных материалов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию определенной экспериментальным путем относительной чувствительности прибора для количественного анализа однородных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20909,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение характеристик поверхности. Измерение бокового разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10296,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Электронная спектроскопия Оже и рентгенографическая фотоэлектронная спетроскопия. Определение разрешения в поперечном напрапвлении
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение разрешения в поперечном направлении и резкости луча в диапазоне от нанометров до микрометров
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
31522,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Методики идентификации, оценки и корректировки непреднамеренного разложения под действием рентгеновских лучей материала, анализируемого с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15523,00
|
|
|
|
Газовый анализ. Анализ чистоты материалов и обработка данных по их чистоте
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ газов. Анализ чистоты и обработка данных по чистоте
|
Действует |
|
Перевод на русский язык
|
31046,00
|
|
На языке оригинала
|
15523,00
|
|
|
|
Газовый анализ. Руководящие указания по отбору проб
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28037,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхностей. Фотоэлектронная рентгеновская спектроскопия. Протоколирование методов, используемых для регулирования и коррекции нагрузки
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Протоколирование методов, используемых для регулирования и коррекции заряда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15523,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и регистрация пределов обнаружения элементов в однородных материалах
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20909,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20909,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгенофлуоресцентный анализ полного отражения воды
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгенофлуоресцентный анализ полного отражения воды
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20909,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 |