| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Неразрушающее профилирование глубины наноразмерных тонких пленок оксида тяжелого металла на подложках Si с рассеянием ионов средней энергии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных конечным размером зонда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки глубины для кремния с помощью многослойных дельта-эталонных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Оже-электронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Анализ металлических нанослоев на подложках на основе железа методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение минимальной обнаруживаемости устройства на основе поверхностного плазмонного резонанса
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Растровая микроскопия. Определение и калибровка разрешения по плоскости оптического микроскопа со сканированием в ближней зоне
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Формат переноса данных для микроскопии со сканирующим зондом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная микроскопия. Методы, используемые для контроля и корректировки заряда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Описание характеристик наноструктурных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28674,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение глубины напыления
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Измерение глубины напыления
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Предлагаемая процедура сертификации оставшихся в рабочем стандартном образце areic доз, производимых имплантацией ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики определения фона
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение разрешения по плоскости, анализируемой площади и площади образца, наблюдаемой оператором
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: ... / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 |