| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-1. Методы измерения оптических и электрооптических параметров
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
51840,00
|
|
|
|
Дисплеи на органических светоизлучающих диодах (OLED). Часть 6-2. Методы измерения визуальных свойств и свойств окружения
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-2. Методы измерения качества визуализации и характеристик окружения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображений
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображений
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
45360,00
|
|
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображений. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-4. Методы измерения параметров прозрачности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40500,00
|
|
|
|
Дисплеи на органических светодиодах (OLED). Часть 6-7. Методы измерения оптических характеристик для дисплеев с подэкранной функцией
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Испытание на стабильность при отклонении температуры полевых транзисторов со структурой металл-оксид-полупроводник (MOSFET). Часть 1. Ускоренное BTI испытание для MOSFET
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Аппараты пускорегулирующие электронные с напряжением питания постоянного или переменного тока для модулей со светоизлучающими диодами. Требования к рабочим характеристикам
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Механизмы управления электронные, работающие на постоянном и переменном токе для модулей СИД (светоизлучающих диодов). Эксплуатационные требования. Изменение 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Аппараты пускорегулирующие электронные с напряжением питания постоянного или переменного тока для модулей со светоизлучающими диодами. Требования к рабочим характеристикам
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Аппараты пускорегулирующие электронные с напряжением питания постоянного или переменного тока для модулей со светоизлучающими диодами. Требования к рабочим характеристикам
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудование. Часть 1. Основные технические условия
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудование. Часть 1. Основные технические условия
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости для использования в электрическом и электронном оборудовании. Часть 1. Основные технические условия
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: ... / 111 / 112 / 113 / 114 / 115 / 116 / 117 / 118 / 119 / 120 / 121 / 122 / 123 / 124 ... / 150 |