Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Управление процессами в авионике. Воздействия атмосферной радиации. Часть 2. Руководящие указания по тестированию одиночных случайных эффектов в системах авионики
|
Действует |
На языке оригинала
|
52416,00
|
|
|
Управление процессами в авионике. Воздействия атмосферной радиации. Часть 3. Оптимизация проекта системы для аккомодации одиночных случайных эффектов (SEE) от атмосферной радиации
|
Действует |
На языке оригинала
|
37440,00
|
|
|
Управление процессами в авионике. Воздействия атмосферной радиации. Часть 4. Проектирование электроники высокого напряжения для воздушных судов для управления возможными одиночными случайными эффектами
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Управление процессами в авионике. Воздействия атмосферной радиации. Часть 5. Оценка потоков тепловых нейтронов и одиночных случайных эффектов в системах авионики
|
Действует |
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
|
Действует |
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Технология электронной сборки. Электронные модули
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Технология электронной сборки. Электронные модули
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Моделирование электромагнитной совместимости интегральных схем (EMC IC). Часть 1. Общая схема моделирования
|
Действует |
На языке оригинала
|
59904,00
|
|
|
Моделирование электромагнитной совместимости интегральных схем (EMC IC). Часть 1. Общая схема моделирования. Поправка 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Моделирование электромагнитно совместимых интегральных схем. Часть 2. Модели интегральных схем для иммитации поведения при электромагнитном излучении
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Моделирование электромагнитно совместимых интегральных схем. Часть 2. Модели интегральных схем для иммитации поведения при электромагнитном излучении
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Моделирование электромагнитной совместимости интегральных схем (EMC IC). Часть 2. Модели интегральных схем для имитации поведения при электромагнитном излучении. Моделирование кондуктивных помех (ICEM-CE)
|
Действует |
На языке оригинала
|
72072,00
|
|
|
Моделирование электромагнитной совместимости интегральных схем (EMC IC). Часть 3. Модели интегральных схем для имитации поведения при электромагнитном излучении. Моделирование излучаемых помех (ICEM-RE)
|
Действует |
На языке оригинала
|
72072,00
|
|
|
Моделирование электромагнитной совместимости интегральных схем (EMC IC). Часть 4. Модели интегральных схем для имитации устойчивости к радиочастотным помехам. Моделирование устойчивости к кондуктивным помехам (ICIM-CI)
|
Действует |
На языке оригинала
|
72072,00
|
|
|
Моделирование электромагнитной совместимости интегральных схем (EMC IC). Часть 6. Модели интегральных схем для имитации устойчивости к импульсным помехам. Моделирование устойчивости к кондуктивным импульсным помехам (ICIM-CPI)
|
Действует |
На языке оригинала
|
59904,00
|
|
|
Компоненты электронные. Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств. Часть 1. Общие положения
|
Действует |
На языке оригинала
|
46800,00
|
|
|
Компоненты электронные. Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств. Часть 2. Механизмы деградации
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
Страницы: ... / 111 / 112 / 113 / 114 / 115 / 116 / 117 / 118 / 119 / 120 / 121 / 122 / 123 / 124 ... / 147 |