Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление. Поправка 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр. Поправка 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST). Поправка 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Резко ускоренное стрессовое испытание (HAST) под воздействием влажного тепла в стационарном режиме
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5: Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре. Поправка 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
|
Действует |
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов. Поправка 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность. Поправка 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность. Поправка 2
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Страницы: ... / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 / 19 / 20 / 21 / 22 ... / 32 |