|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Стандарты IEC защищены авторским правом. Федеральное государственное бюджетное учреждение «Российский институт стандартизации» имеет Соглашение с Международной электротехнической комиссией IEC о распространении и воспроизведении стандартов IEC на территории РФ.
Заказчику предоставляется 1 копия стандарта на языке оригинала и/или 1 копия перевода для 1 (одного) пользователя на 1 (одно) рабочее место. Копировать документ, распространять, помещать его в места общего доступа, в архивные и другие электронные системы строго запрещено. Несоблюдение данного требования строго контролируется как правообладателем, так и дистрибьюторами.
В том случае, если документы будут использоваться на нескольких рабочих местах, необходимо приобретение сетевой лицензии на несколько пользователей
Для приобретения сетевой лицензии обращайтесь в отдел распространения документов по стандартизации по адресу: gost@gostinfo.ru с указанием номера Вашей регистрации (№ клиента) на сайте.
Полупроводниковые приборы в целом
Фильтр по статусу:
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Метод испытания на тепловой удар
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Метод испытания на механический удар
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Метод испытания на вибрацию переменной частоты
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Влияние смещения в течение срока службы полупроводникового прибора
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые негерметичные, монтируемые на поверхности. Классификация по чувствительности к влажности/пайке методом расплавления полуды
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Микроскопия акустическая для негерметичных электронных компонентов в пластмассовом корпусе
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Методика выполнения ускоренного испытания электромиграции со степенью интеграции, соответствующей целой полупроводниковой пластине (SWEAT)
|
Отменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Механизмы и модели отказа для кремниевых полупроводниковых приборов
|
Отменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Испытание электрическое со степенью интеграции, соответствующей целой полупроводниковой пластине. Руководство по стандартным размерам и чертежам для контактной поверхности зонда
|
Отменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Стандартный метод измерения и применения температурного коэффициента сопротивления для определения температуры линии металлизации
|
Отменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Долговечность при высокотемпературном хранении
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Циклическое изменение мощности и температуры
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Герметичность
|
Отменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Влагостойкость. Высокоускоренное испытание (HAST) без смещения критерия
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Измерение роста нитевидных кристаллов по шероховатости поверхности на олове и его сплавах. Метод испытания
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Справочник данных по надежности. Универсальная модель для прогнозирования надежности электронных компонентов, печатных плат (PCB) и оборудования
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании
|
Действует |
На языке оригинала
|
20010,00
|
|
|
Тепловая стандартизация корпусов полупроводниковых приборов. Часть 1. Тепловое сопротивление и тепловой параметр корпусов полупроводниковых приборов типа BGA, QFP
|
Действует |
На языке оригинала
|
20010,00
|
|
Страницы: ... / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 |
|
отдел распространения документов по стандартизации: e-mail: gost@gostinfo.ru, телефон: 8 (800) 101-92-72
|