| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 14. Метод измерения предела формирования металлических пленочных материалов
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 20. Гироскопы
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 20. Гироскопы
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Оборудование для электрических измерений (переменный ток). Частные требования. Часть 52. Символы
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Electricity metering - Payment systems - Part 31: Particular requirements - Static payment meters for active energy (classes 1 and 2) (IEC 62055-31:2005)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Обмен данными при измерении энергопотребления. Комплект DLMS/COSEM. Часть 1-0. Основы стандартизации интеллектуального измерения
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Обмен данными при измерении энергопотребления. Комплект DLMS/COSEM. Часть 1-0. Основы стандартизации интеллектуального измерения
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Обмен данными по измерению электропотребления. Набор DLMS/COSEM. Часть 3-1. Использование локальных вычислительных сетей на витой паре с передачей несущего сигнала
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
| Страницы: ... / 1356 / 1357 / 1358 / 1359 / 1360 / 1361 / 1362 / 1363 / 1364 / 1365 / 1366 / 1367 / 1368 / 1369 ... / 1430 |