| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ огнеупоров, содержащих глинозем, цирконий и кремнезем. Огнеупоры, содержащие от 5% до 45 % ZrO2 (метод, альтернативный методу флуоресценции под Х-лучом). Часть 3. Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP -AES)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Методика определения модуля упругости гибких материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода Джонсона-Кендалла-Робертса (JKR)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхностей. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры и электронные спектрометры Оже. Линейность шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Формат стандартного файла для обмена спектральными данными
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Микролучевой анализ. Формат стандартного файла для обмена спектральными данными
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Стандартный формат файла EMSA/MAS для обмена спектральными данными
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии с вторичными ионами
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Микроанализ электронно-зондовый. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным номером от 11 (Na) и выше
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
|
Микрозондовый анализ. Электронный микроанализ пробы. Количественный точечный анализ массовой пробы методом рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ массовой пробы методом рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Информация, поступающая в близком к реальному времени, из обзорной спектрограммы при рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила идентификации загрязнения поверхности углеродсодержащими соединениями и внесения поправок на загрязнение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Микрофлюидные устройства. Требования к совместимости размеров, соединений и начальной классификации устройств
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Измерение бокового и осевого разрешения рамановского микроскопа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Неразрушающее профилирование глубины наноразмерных тонких пленок оксида тяжелого металла на подложках Si с рассеянием ионов средней энергии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектров потерь энергии электронов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Количественный анализ внутрикристаллитной ликвации марганца в стальной продукции, полученной методом непрерывного литья
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Руководство по анализу дезориентации для оценки механических повреждений аустенитной нержавеющей стали методом дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных конечным размером зонда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
| Страницы: ... / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 |