Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 12. Вибрации, переменная частота
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 16. Обнаружение частиц по импульсному шуму
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза)
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2-1. Обработка, упаковка, этикетирование и отгрузка поверхностно монтируемых устройств, чувствительных к совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 |