Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 29. Метод определения электромеханической релаксации отдельных электропроводящих тонких пленок при комнатной температуре
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 30. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрических тонких пленок MEMS
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 31. Методы испытания на четырех-точечный изгиб слоистых материалов микроэлектромеханических систем (MEMS) для измерения энергии адгезии на поверхности раздела
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 32. Метод определения нелинейных колебаний резонаторов микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 33. Пьезорезистивные пневмодатчики микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 34. Методы испытаний на пластине пьезорезистивных пневмодатчиков микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств
|
Действует |
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 36. Климатические испытания и испытания диэлектрической прочности пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS)
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 37. Климатические испытания пьезорезистивных тонких пленок микроэлектромеханических систем (MEMS), используемых в датчиках
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 38. Метод определения адгезионной прочности металлопорошковой пасты в электрическом соединении между микроэлектромеханическими системами (MEMS) и печатной платой
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 40. Методы определения порога переключения микроэлектромеханических инерционных ударных выключателей
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 41. Радиочастотные микроэлектромеханические (RF MEMS) циркуляторы и вентили
|
Действует |
На языке оригинала
|
46800,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 42. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрического МЭМС-кантилевера
|
Действует |
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 43. Метод определения электрических характеристик гибких микроэлектромеханических устройств после циклической деформации изгиба
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 44. Методы измерения динамических характеристик МЭМС-резонаторов, чувствительных к электрическому полю
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 45. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения ударной прочности наноструктур
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 46. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности на разрыв мембраны наноразмерной толщины
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 47. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности микроструктур на изгиб
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 48. Метод испытания для определения концентрации раствора по оптическому поглощению с использованием жидкостного устройства MEMS
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 1. Требования к поставке и использованию
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Страницы: ... / 18 / 19 / 20 / 21 / 22 / 23 / 24 / 25 / 26 / 27 / 28 / 29 / 30 / 31 ... / 32 |