|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Стандарты ONORM защищены авторским правом. Федеральное государственное бюджетное учреждение «Российский институт стандартизации» имеет Соглашение с Австрийским институтом стандартом (ASI) о распространении и воспроизведении стандартов ONORM на территории РФ.
Заказчику предоставляется 1 копия стандарта на языке оригинала и/или 1 копия перевода для 1 (одного) пользователя на 1 (одно) рабочее место. Копировать документ, распространять, помещать его в места общего доступа, в архивные и другие электронные системы строго запрещено. Несоблюдение данного требования строго контролируется как правообладателем, так и дистрибьюторами.
В том случае, если документы будут использоваться на нескольких рабочих местах, необходимо приобретение сетевой лицензии на несколько пользователей
Для приобретения сетевой лицензии обращайтесь в отдел распространения документов по стандартизации по адресу: gost@gostinfo.ru с указанием номера Вашей регистрации (№ клиента) на сайте.
Международные и зарубежные стандарты заказать возможно, направляйте заявку в отдел распространения документов по стандартизации на адрес gost@gostinfo.ru
ONORM | национальные стандарты Австрии
Фильтр по статусу:
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные приборы. Методы измерения
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые дискретные. Часть 15. Изолированные мощные полупроводниковые приборы
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые дискретные. Часть 15. Изолированные мощные полупроводниковые приборы
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Часть 16-10. Технологический график премки монолитных интегральных схем
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 16. Обнаружение частиц по импульсному шуму
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2-1. Обработка, упаковка, этикетирование и отгрузка поверхностно монтируемых устройств, чувствительных к совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2-1. Обработка, упаковка, этикетирование и отгрузка поверхностно монтируемых устройств, чувствительных к совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Сопротивление поверхностно монтируемых устройств в пластмассовом корпусе совместному воздействию влажности и теплоты, выделяемой при сварке
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
| Страницы: ... / 1264 / 1265 / 1266 / 1267 / 1268 / 1269 / 1270 / 1271 / 1272 / 1273 / 1274 / 1275 / 1276 / 1277 ... / 1430 |
|
отдел распространения документов по стандартизации: e-mail: gost@gostinfo.ru, телефон: 8 (800) 101-92-72
|