| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки глубины для кремния с помощью многослойных дельта-эталонных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24149,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
11794,00
|
|
|
|
Анализ микропучком. Электронный микроанализ пробы. Словарь
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ (EPMA). Словарь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
7862,00
|
|
|
|
Микроанализ электронно-зондовый. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратнорассеянных электронов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32386,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Оже-электронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
17971,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
11794,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Анализ металлических нанослоев на подложках на основе железа методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28267,00
|
|
|
|
Лабораторная посуда. Фляги для кипячения с широким горлом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
7862,00
|
|
Перевод на русский язык
|
15724,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение минимальной обнаруживаемости устройства на основе поверхностного плазмонного резонанса
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
11794,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии электронных энергетических потерь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
17971,00
|
|
|
|
Микропучковый анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронный диффракционный анализ с применением трансмиссионного микроскопа
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Электронный диффракционный анализ на отдельных участках с применением трансмиссионного микроскопа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32386,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Растровая микроскопия. Определение и калибровка разрешения по плоскости оптического микроскопа со сканированием в ближней зоне
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
17971,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Формат переноса данных для микроскопии со сканирующим зондом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28267,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная микроскопия. Методы, используемые для контроля и корректировки заряда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24149,00
|
|
|
|
Стандартные образцы. Содержание сертификатов, этикеток и сопроводительной документации
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
11794,00
|
|
|
|
Справочные материалы. Требования и рекомендации по применению
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24149,00
|
|
|
|
Стандартные образцы. Подходы к характеризации и оцениванию однородности и стабильности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40435,00
|
|
| Страницы: ... / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 |