| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты на определение и калибровку пространственной разрешающей способности электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации примесей и других целей
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Калибровка шкалы массы для масс-спектрометра
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Калибровка шкалы массы для времяпролетного масс-спектрометра на вторичных ионах
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия (AFM). Методика определения на месте характеристик профиля хвостовика зонда AFM, используемого при измерении наноструктуры
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
|
Посуда лабораторная стеклянная. Эксикаторы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
Русскоязычная версия
|
21924,00
|
|
|
|
Посуда лабораторная стеклянная. Чашки Петри
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Русскоязычная версия
|
Нет
|
|
|
|
Посуда лабораторная стеклянная. Чашки Петри
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность по результатам тонкопленочного анализа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
|
Газовый анализ. Общие аспекты обеспечения качества и метрологической прослеживаемости калибровочных газовых смесей
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с помощью однородно легированных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по определению экспериментальных параметров для волновой дисперсионной спектрометрии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по определению экспериментальных параметров для волновой дисперсионной спектрометрии. Техническая поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Руководящие указания по определению экспериментальных параметров для волновой дисперсионной спектроскопии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Руководящие указания по определению экспериментальных параметров для волновой дисперсионной спектроскопии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по подробному описанию аттестованных стандартных образцов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по подробному описанию аттестованных стандартных образцов
|
Заменен |
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по подробному описанию аттестованных стандартных образцов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 ... / 18 |