| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах. Часть 1-1. Общие технические условия
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах. Часть 1-2.Терминология и буквенные символы
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах. Часть 5. Методы экологических испытаний
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах. Часть 5-2. Механические методы испытаний на прочность
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах. Часть 5-3. Методы измерения послеизображения и продолжительности изображения
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах. Часть 6-1. Методы измерения оптических и электро-оптических параметров
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах (OLED). Часть 6-2. Методы измерения визуальных свойств и свойств окружения
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображений
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудование. Часть 1. Основные технические условия
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудовании. Часть 1. Основные технические условия
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудовании. Часть 1. Основные технические условия. Поправка к DIN EN 62391-1:2016-09, (IEC 62391-1:2015/COR1:2016)
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудовании. Часть 1. Основные технические условия. Поправка 2
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудование. Часть 2. Групповые технические условия. Конденсаторы двухслойные для силового применения
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудование. Часть 2-1. Типовая форма частных технических условий. Конденсаторы двухслойные для силового применения. Уровень оценки EZ
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
| Страницы: ... / 81 / 82 / 83 / 84 / 85 / 86 / 87 / 88 / 89 / 90 / 91 / 92 / 93 / 94 ... / 120 |