| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгенофлуоресцентный анализ полного отражения воды
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгенофлуоресцентный анализ полного отражения воды
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с применение вторичного йона. Метод оценки параметров по глубине разрешения с множественными дельта-слойными эталонными материалами
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6966,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод коррекции интенсивности насыщения для вторично-ионной масс-спектрометрии с подсчетом первичных ионов в динамическом режиме
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Обработка, подготовка и установка образцов. Часть 1. Документирование и отчетность по обращению с образцами перед анализом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Обработка, подготовка и установка образцов. Часть 2. Документирование и отчетность по подготовке и монтажу образцов для анализа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Обработка, подготовка и установка образцов Часть 3. Биоматериалы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Руководящие указания по обработке, подготовке и установке образцов. Часть 4. Отчетная информация относительно предистории, подготовки, обработки и установке нанообъектов перед проведением анализа поверхности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная Оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная Оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ огнеупоров, содержащих глинозем, цирконий и кремнезем. Огнеупоры, содержащие от 5% до 45 % ZrO2 (метод, альтернативный методу флуоресценции под Х-лучом). Часть 1. Аппаратура, реактивы и растворение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ огнеупоров, содержащих глинозем, цирконий и кремнезем. Огнеупоры, содержащие от 5% до 45 % ZrO2 (метод, альтернативный методу флуоресценции под Х-лучом). Часть 2. Влажный химический анализ
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ огнеупоров, содержащих глинозем, цирконий и кремнезем. Огнеупоры, содержащие от 5% до 45 % ZrO2 (метод, альтернативный методу флуоресценции под Х-лучом). Часть 3. Пламенная атомно-абсорбционная спектрофотометрия (FAAS) и атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ICP -AES)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Методика определения модуля упругости гибких материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода Джонсона-Кендалла-Робертса (JKR)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхностей. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры и электронные спектрометры Оже. Линейность шкалы интенсивности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Информационный формат для статической масс-спектрометрии с вторичными ионами
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Информация, поступающая в близком к реальному времени, из обзорной спектрограммы при рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила идентификации загрязнения поверхности углеродсодержащими соединениями и внесения поправок на загрязнение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Измерение бокового и осевого разрешения рамановского микроскопа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
| Страницы: ... / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 |