| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электро-механические приборы. Часть 5. Радиочастотные переключатели MEMS. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 7. Фильтр и дуплексер MEMS BAW для контроля и отбора частоты
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электромеханические приборы. Часть 9. Измерение прочности межпластинчатого соединения для MEMS
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электромеханические приборы. Часть 9. Измерение прочности межпластинчатого соединения для MEMS. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6480,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов микроэлектромеханических систем MEMS. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 11. Метод испытания на коэффициенты линейного теплового расширения автономного материала для микроэлектромеханических систем
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 14. Метод измерения предела формирования металлических пленочных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18630,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 15. Метод определения силы сцепления между PDMS и стеклом
|
Отменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6480,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32400,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 20. Гироскопы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
51840,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12960,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6480,00
|
|
| Страницы: ... / 17 / 18 / 19 / 20 / 21 / 22 / 23 / 24 / 25 / 26 / 27 / 28 / 29 / 30 ... / 32 |