| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Стекло и стеклянная посуда. Анализ экстрагирующих растворов. Часть 5. Определение содержания оксида железа (III) методами молекулярной абсорбционной спектрометрии и пламенной атомной абсорбционной спектрометрии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
7308,00
|
|
|
|
Стекло и стеклянная посуда. Анализ экстрагирующих растворов. Часть 6. Определение содержания оксида бора (III) с помощью молекулярной абсорбционной спектрометрии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
7308,00
|
|
|
|
Боксы и камеры защитные герметичные. Часть 1. Принципы проектирования
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
|
|
Боксы и камеры защитные герметичные. Часть 2. Классификация в зависимости от герметичности и соответствующие методы контроля
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
Перевод на русский язык
|
33408,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
|
|
Технология микропроцессов. Словарь
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Микрофлюидика. Словарь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
7308,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Микроскопия со сканирующим датчиком. Измерение скорости смещения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение нормальных коэффициентов жесткости кантилевера
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Методы для анализа элементного отображения, используя дисперсную спектроскопию по длине волны
|
Действует |
|
Перевод на русский язык
|
21924,00
|
|
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических размеров с использованием SPM. Калибровка измерительных систем
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33756,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
|
Посуда лабораторная стеклянная. Одноразовые микрогематокритные капиллярные трубки
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
|
Анализ газов. Методы сравнения для определения состава газовых смесей на основе одноточечной и двухточечной калибровок
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
Перевод на русский язык
|
44892,00
|
|
|
|
Анализ газов. Методы сравнения для определения состава газовых смесей на основе одноточечной и двухточечной калибровок. Изменение 1. Поправка к формуле 5
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3132,00
|
|
Перевод на русский язык
|
6264,00
|
|
|
|
Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 ... / 18 |