Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 14. Метод измерения предела формирования металлических пленочных материалов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 15. Метод определения силы сцепления между PDMS и стеклом
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 25. Технология изготовления MEMS на основе кремния. Метод измерения прочности на отрыв-сжатие и на сдвиг контактной микроплощадки
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Соединители для электронного оборудования. Требования оценки качества. Часть 1. Общие технические условия
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Интерфейсы шины по данным и блоку питания универсальные последовательные. Часть 2. Технические требования к кабелям и соединителям микро-USB, пересмотр 1.01
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Интерфейсы шины по данным и блоку питания универсальные последовательные. Часть 4. Документ на классы универсальных последовательных шинных кабелей и соединителей, пересмотр 2,0
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Катушки постоянной индуктивности радиочастотные с проволочной обмоткой. Общие технические условия
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Катушки постоянной индуктивности радиочастотные с проволочной обмоткой. Общие технические условия. Изменение 1
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Катушки индуктивности с проволочной обмоткой, монтируемые на поверхности. Групповые технические условия
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Катушки индуктивности с проволочной обмоткой, монтируемые на поверхности. Групповые технические условия. Изменение 1
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Катушки индуктивности с проволочной обмоткой, монтируемые на поверхности, оцененного качества, уровень оценки E. Типовая форма частных технических условий
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
Страницы: ... / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 / 19 / 20 / 21 / 22 / 23 |