| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины диоксида кремния
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение загрязнения поверхности элементами на силиконовых пластинках методом флюоресцентной рентгеновской общеотражающей спектроскопии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение загрязнения химическими элементами поверхности кремниевых пластин методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда. Введение к применению
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда (GD-OES). Введение к применению
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда (GD-OES). Введение к применению
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Анализ газовой смеси. Преобразование данных о составе газовой смеси
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
|
Газовый анализ. Преобразование данных о составе газовой смеси. Техническая поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ газовой смеси. Преобразование данных о составе газовой смеси
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
37253,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Информационные форматы
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Химический анализ состояния поверхности носителя. Формат передачи данных
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание отдельных рабочих параметров прибора
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание выборных рабочих параметров прибора
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия. Описание отдельных рабочих параметров прибора
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибрование энергетической шкалы
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: ... / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 ... / 18 |