| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Анализ газов. Словарь
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ газов. Словарь
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Комплект: На языке оригинала+Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
|
Анализ газов. Словарь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Оценка эксплуатационных характеристик газоанализаторов
|
Отменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Продукты химические технические. Методика отбора образцов. Твердые химические продукты в виде частиц (от порошков до крупных кусков)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
|
Заменен |
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Комплект: На языке оригинала+Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Микроскопия со сканирующим датчиком. Измерение скорости смещения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение нормальных коэффициентов жесткости кантилевера
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических размеров с использованием SPM. Калибровка измерительных систем
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
32238,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Анализ газов. Методы сравнения для определения состава газовых смесей на основе одноточечной и двухточечной калибровок
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
Перевод на русский язык
|
42768,00
|
|
Комплект: На языке оригинала+Перевод на русский язык
|
53460,00
|
|
|
|
Анализ газов. Методы сравнения для определения состава газовых смесей на основе одноточечной и двухточечной калибровок. Изменение 1. Поправка к формуле 5
|
Действует |
|
Перевод на русский язык
|
5832,00
|
|
Комплект: На языке оригинала+Перевод на русский язык
|
7290,00
|
|
На языке оригинала
|
2916,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты на определение и калибровку пространственной разрешающей способности электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации примесей и других целей
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Калибровка шкалы массы для масс-спектрометра
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Калибровка шкалы массы для времяпролетного масс-спектрометра на вторичных ионах
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия. Калибровка шкалы массы для времяпролетного масс-спектрометра на вторичных ионах
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 ... / 11 |