| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 4. Общие технические условия на MEMS
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электро-механические приборы. Часть 5. Радиочастотные переключатели MEMS
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 6. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Микро-электромеханические устройства. Часть 7. Фильтр и дуплексер MEMS BAW
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микро-электромеханические приборы. Часть 9. Измерение прочности межпластинчатого соединения для MEMS
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 11. Метод испытания на коэффициенты линейного теплового расширения автономного материала для микроэлектромеханических систем
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 14. Метод измерения предела формирования металлических пленочных материалов
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 15. Метод определения силы сцепления между PDMS и стеклом
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 22. Метод испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 25. Технология изготовления MEMS на основе кремния. Метод измерения прочности на отрыв-сжатие и на сдвиг контактной микроплощадки
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 |