| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности рабочих эталонных материалов из кремниевых пластин методом рентгеновской флюоресцентной спектроскопии с полным отражением спектра
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15523,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности рабочих эталонных материалов из кремниевых пластин методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии с полным отражением спектра. Изменение 1. Химический анализ
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
2851,00
|
|
|
|
Анализ поверхностей химический. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10296,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15523,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10296,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронные спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа и анализа химического состояния
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24552,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с вторичными ионами. Определение коэффициентов относительной чувствительности по эталонным материалам с имплантированными ионами
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение коэффициентов относительной чувствительности по стандартным образцам с имплантированными ионами
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6811,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Изменение 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Изменение 2
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6811,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондом спектроскопии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в растровой микроскопии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 |