| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Поверхностный химический анализ. Анализ покрытий из металлов на основе цинка и/или алюминия методом оптико- излучательной спектрометрии с тлеющим разрядом
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28674,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Профилирование по глубине. Метод определения скорости напыления с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Оже-электронной спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии при профилировании по глубине распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Метод определения скорости распыления при рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Оже-электронной спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии профилирования глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21384,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Применение сфокусированного ионного пучка для подготовки образцов для TEM. Словарь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности рабочих эталонных материалов из кремниевых пластин методом рентгеновской флюоресцентной спектроскопии с полным отражением спектра
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности рабочих эталонных материалов из кремниевых пластин методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии с полным отражением спектра. Изменение 1. Химический анализ
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
2916,00
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Электронно-зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Анализ поверхностей химический. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15876,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10530,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронные спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементарного анализа и анализа химического состояния
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25110,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с вторичными ионами. Определение коэффициентов относительной чувствительности по эталонным материалам с имплантированными ионами
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение коэффициентов относительной чувствительности по стандартным образцам с имплантированными ионами
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6966,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Словарь
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: ... / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 ... / 19 |